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| 锥光法研究高分子薄膜结构 | |
| 作者姓名： | 左榘 |
| 作者单位： | 南开大学化学系 |
| 摘 要： | 在偏光显微镜上利用平行入射光,于起、检偏镜正交下,由马尔他(Maltese)黑十字图形检测高分子球晶的方法已为人们所熟悉,但在偏光显微镜上利用锥形入射光,于起、检偏镜正交下(简称锥光法)检测高分子薄膜取向态结构的方法尚未见报导。 本文用锥光法对几种高分子薄膜取向态结构进行对比研究。首先由取向态已知的薄膜获得典型锥光干涉图,并以此作为由锥光干涉图解释薄膜取向态结构的基础,然后在此基础上,检测取向态未知的薄膜,得到对结构的相应解释,这些解释与其它方法对该薄膜取向态结构的判断结果一致,与其它方法相比,本方法具有无需特殊设备、 |
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