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| 基于ARM的数字集成电路测试系统的研究 | |
| 引用本文： | 张建文.基于ARM的数字集成电路测试系统的研究[J].中国新技术新产品,2018(9). |
| 作者姓名： | 张建文 |
| 作者单位： | 华润赛美科微电子(深圳)有限公司 |
| 摘 要： | 为了丰富数字集成电路测试系统功能,实现上位机数据独立传送,本文采用ARM控制器,设计一套数字集成电路测试系统。首先,对ARM处理器进行简要概述,其次,明确设计目标,提出系统设计方案,最后,制定系统调试步骤,并对其调试结果做出分析。调试结果表明:本文提出的数字集成电流测试系统设计方案满足设计要求。 |
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