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| x射线荧光表面测量系统 | |
| 作者姓名： | 蔡兆勋 |
| 摘 要： | Veeco仪器公司为XRF-300 x射线荧光表面测量系统配上一台单独的IBM-AT兼容式个人计算机,以提高该仪器的测试速度和分析能力。这套系统能测量任何镀层的厚度,包括任何基体上的多层涂复。还能同时测量电子和电镀领域中使用的合金的厚度和成分。并且,也能精确测定电解液中金属元素的浓度。 XRF-300 x射线荧光表面测量系统内在的处理能力已由外接的AT型计算机来完成。其鼠标器一驱动,多窗口—基本软件,借助于列出的菜单在MSDOS下操作,能提供先进的光谱分析。计算机的随机存取存贮器(RAM)为1兆字节,并具有40兆字节的 |
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