| Mg-Gd-Nd合金中晶界无析出带的电子显微镜研究 |
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| 引用本文： | 谢中柱,孙威,付建强,张泽. Mg-Gd-Nd合金中晶界无析出带的电子显微镜研究[J]. 电子显微学报, 2007, 26(6): 536-540 |
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| 作者姓名： | 谢中柱 孙威 付建强 张泽 |
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| 作者单位： | 北京工业大学固体微结构与性能研究所,北京,100022;北京工业大学固体微结构与性能研究所,北京,100022;北京工业大学固体微结构与性能研究所,北京,100022;北京工业大学固体微结构与性能研究所,北京,100022 |
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| 摘 要： | 本文研究了高频感应炉熔炼的Mg-Gd-Nd合金在200 ℃等温时效过程中晶界无析出带(PFZ)的形成和生长.通过透射电镜观察并结合能谱分析发现,晶界PFZ形成初期受空位损耗控制.随着时效时间的延长,晶界析出相粗化,晶界PFZ的宽度增加,PFZ的成长逐渐转变为受溶质损耗影响.当PFZ中稀土溶质原子浓度近似达到200 ℃合金中该元素的平衡含量时,PFZ宽度最终达到其极限值,约为275 nm.
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| 关 键 词： | Mg-Gd-Nd合金 电子显微结构 晶界无析出带 空位损耗 溶质损耗 |
| 文章编号： | 1000-6281（2007）06-0536-05 |
| 收稿时间： | 2007-05-15 |
| 修稿时间： | 2007-05-15 |
Electron microscopic study of precipitate free zones along grain boundaries in the Mg96.9Gd2.8Nd0.3 alloy |
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| XIE Zhong-zhu,SUN Wei,FU Jian-qiang,ZHANG Ze. Electron microscopic study of precipitate free zones along grain boundaries in the Mg96.9Gd2.8Nd0.3 alloy[J]. Journal of Chinese Electron Microscopy Society, 2007, 26(6): 536-540 |
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| Authors: | XIE Zhong-zhu SUN Wei FU Jian-qiang ZHANG Ze |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Mg-Gd-Nd alloy electron microscopic structure grain boundary PFZ vacancy depletion solute depletion |
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