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| 用于机械变形分析的全息照相系统 | |
| 作者姓名： | 潘启杞 |
| 摘 要： | 据瑞士刊《精密技术》1972年报道,一个英国制造公司已生产出一种Optel型全息照相干涉度量系统。这种系统可进行象0.5个光波长那样小的机械位移定量分析,而且可将此值插补到10分之一的数值。此系统适用于很多方面的静态和动态测量。它现正用于航空工业的透平转子叶片的检查。 Optel型全息照相干涉仪包括一个气体激光器和一个由分光器、滤光片组成的光学系统,其中分光器将激光束分成两束光束。一束是参考光束,另一束照在被测物体上,并在全息底片上形成干涉条纹。当通过显影后的底片 |
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