耦合电容器末屏损耗因数的测量

耦合电容器受潮后，水分易沉聚底部，底部的绝缘首先受潮劣化，对耦合电容器运行中多起爆炸事故的调查分析，发现爆炸原因系底部受潮所致。为此，在交换试验和预防性试验中，增加了耦合电容器末屏对地损耗因素ｔｇδ的测试项目，这对分析和判断耦合电容器的绝缘状况，及时发现绝缘缺陷，保证设备安全运行起到了积极作用。