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| 大规模集成电路测试图案产生方法的研究, | |
| 引用本文： | 林雨.大规模集成电路测试图案产生方法的研究,[J].半导体学报,1980,1(4):329-332. |
| 作者姓名： | 林雨 |
| 摘 要： | <正> 一、引 言 大规模集成电路测试设备的核心是测试图案发生器.为发展我国大规模集成电路的测试设备,我们对于测试图案的产生方法进行了研究,提出了几点看法并用于研制大规模集成电路设备的实践.与北京无线电仪器厂合作研制了: |
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