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硫系化合物随机存储器研究进展
引用本文:封松林,宋志棠,刘波,刘卫丽.硫系化合物随机存储器研究进展[J].微纳电子技术,2004,41(4):1-8.
作者姓名:封松林  宋志棠  刘波  刘卫丽
作者单位:中国科学院上海微系统与信息技术研究所,半导体功能薄膜工程技术研究中心,信息功能材料国家重点实验室,上海,200050
基金项目:国家863计划资助项目(2003AA32720),上海市纳米科技与产业发展促进中心资助项目(0352nm016,0359nm004,0252nm084),国家973资助项目(001CB610408),基础研究项目前沿课题(2001CCA02800),上海市科委资助项目(03dz11009)
摘    要:系统地介绍了硫系化合物随机存储器(C-RAM)的原理、相关材料、研究现状、特点及今后的发展趋势以及中科院上海微系统与信息技术研究所在C-RAM方面的研究进展。C-RAM由于具有高速读取、高可擦写次数、非易失性、元件尺寸小、功耗低和成本低等优点,被认为是最有可能取代目前的FLASH、DRAM和SRAM而成为未来半导体存储器的主流产品。

关 键 词:硫系化合物随机存储器  Ge2Sb2Te5  纳电子器件
文章编号:1671-4776(2004)04-0001-07
修稿时间:2004年1月15日

A review and recent progress on C-RAM
FENG Song-lin,SONG Zhi-tang,LIU Bo,LIU Wei-li.A review and recent progress on C-RAM[J].Micronanoelectronic Technology,2004,41(4):1-8.
Authors:FENG Song-lin  SONG Zhi-tang  LIU Bo  LIU Wei-li
Abstract:The progress of chalcogenide random access memory(C-RAM)were reviewed systema-tically,including the memory principle,relative materials,current research state and development trend. Finally,the research progress about C-RAM in the Research Center of Functional Semiconductor Film Engineering Technology was introduced. Due to its advantages in high read rate,high write times,nonvolatile,small cell size,low cell energy consumption,and low cost,C-RAM has the capability to replace the conventional FLASH,DRAM,and SRAM and becomes the major semiconductor memory in the future.
Keywords:chalcogenide-random access memory  Ge2Sb2Te5  nano-electronics device  
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