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Ta/Cu真空扩散焊工艺及界面研究(英文)EI北大核心CSCD
引用本文:周方明,张富强,宋飞远,李桂鹏,同 雷.Ta/Cu真空扩散焊工艺及界面研究(英文)EI北大核心CSCD[J].稀有金属材料与工程,2013,42(9):1785-1789.
作者姓名:周方明  张富强  宋飞远  李桂鹏  同 雷
作者单位:1. 江苏科技大学江苏省先进焊接技术重点实验室,江苏镇江,212003
2. 宁夏东方钽业股份有限公司国家钽铌特种金属材料工程技术研究中心,宁夏石嘴山,753000
基金项目:Postgraduate Innovation Programs of Jiangsu Scientific Research(CXLX11_0921);The Priority Academic Program Development of Jiangsu Higher Education Institutions(PAPD)
摘    要:研究了工艺参数对Ta/Cu真空扩散焊的影响。利用扫描电镜(SEM)、能谱分析(EDS)、显微硬度等测试方法对结合面微区进行了分析。结果表明:采用真空扩散焊工艺,在焊接压力为10 MPa及焊接时间为60 min的工艺参数下,界面孔洞随着焊接温度的升高而减少,在焊接温度达到1000°C时,结合面内孔洞基本消失,结合面扩散区域宽度为3~5μm;加工硬化导致硬度升高,焊合区的硬度值要比未焊合区的硬度值稍高。

关 键 词:    真空扩散焊  结合界面  显微硬度  剪切强度
收稿时间:2012/9/25 0:00:00

Vacuum Diffusion Bonding and Interfacial Structure in Ta/Cu Couple
Zhou Fangming,Zhang Fuqiang,Song Feiyuan,Li Guipeng and Tong Lei.Vacuum Diffusion Bonding and Interfacial Structure in Ta/Cu Couple[J].Rare Metal Materials and Engineering,2013,42(9):1785-1789.
Authors:Zhou Fangming  Zhang Fuqiang  Song Feiyuan  Li Guipeng and Tong Lei
Affiliation:Jiangsu Province Key Laboratory of Advanced Welding Technology, Jiangsu University of Science and Technology, Zhenjiang 212003, China
Abstract:
Keywords:Ta/Cu  vacuum diffusion bonding  joint interface  microhardness  shear strength
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