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| SiGe/Si异质结构的x射线双晶衍射 | |
| 引用本文： | 邹德恕 徐晨 罗辑 魏欢 董欣 周静 杜金玉 高国 陈建新 沈光地 王玉田. SiGe/Si异质结构的x射线双晶衍射[J]. 半导体技术, 2000, 25: 36-38 |
| 作者姓名： | 邹德恕 徐晨 罗辑 魏欢 董欣 周静 杜金玉 高国 陈建新 沈光地 王玉田 |
| 摘 要： | |
| 文章编号： | 1003-353X(2000)1-36-03 |
SiGe/Si HeterostructureAnalysis by DCXD |
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| Zou Deshu. SiGe/Si HeterostructureAnalysis by DCXD[J]. Semiconductor Technology, 2000, 25: 36-38 | |
| Authors: | Zou Deshu |
| Abstract: | |
| Keywords: | |