| 角反射体RCS微波暗室测量及分析 |
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| 引用本文： | 吕可,郑威.角反射体RCS微波暗室测量及分析[J].计算机测量与控制,2016,24(9):28-31. |
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| 作者姓名： | 吕可 郑威 |
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| 作者单位： | 中国人民解放军91336部队,河北 秦皇岛 066326,中国人民解放军91404部队,河北 秦皇岛 066000 |
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| 摘 要： | 角反射体雷达散射截面(RCS)的测量是雷达目标识别、成像等研究领域的一个关键环节;在对目标RCS测量原理分析的基础上,介绍了一个在微波暗室中基于紧缩场和矢量网络分析仪测量目标RCS的测量系统;利用该系统对角反射体垂直姿态和45°姿态的RCS进行了360度转角扫频的测量,结果与FEKO软件仿真计算的结果对比表明,两种方法得到的数据走势基本一致。
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| 关 键 词： | 雷达散射截面 紧缩场 矢量网络分析仪 仿真计算 |
| 收稿时间： | 2016/3/20 0:00:00 |
| 修稿时间： | 2016/4/18 0:00:00 |
Measurement and Analysis of Corner Reflector's RCS in Microwave Anechoic Chamber |
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