存储测试模块抗高冲击结构设计研究 |
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引用本文: | 孟令军,赵盼盼. 存储测试模块抗高冲击结构设计研究[J]. 弹箭与制导学报, 2016, 0(1): 140-142. DOI: 10.15892/j.cnki.djzdxb.2016.01.035 |
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作者姓名: | 孟令军 赵盼盼 |
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作者单位: | 1. 中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室,太原030051;中北大学电子测试技术国家重点实验室,太原030051;2. 中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室,太原,030051 |
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基金项目: | 国家自然科学基金(50975266),国家自然基金重大研究计划(91123036) |
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摘 要: | 通过分析高过载条件下存储测试模块的侵彻破坏机理及其缓冲防护原理,并对撞击过程进行动态模拟,分析电路板所受最大应力及衰减情况,从而得出关于存储模块的微型化设计,根据牛顿第二定理建立了存储模块的波动方程,研究了应力波在变截面体的传播规律,得出应力波的传递特性.与传统的存储结构进行分析比较,并进行炮击试验,得到最大加速度值约40 000g,传统结构最大加速度值约60 000g,该结构具有更高的缓冲性能与抗冲击性.
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关 键 词: | 存储测试模块 缓冲防护 应力波 波动方程 |
Anti-impact Design for Storage Test Module |
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Abstract: | |
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Keywords: | |
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