| 多层片式陶瓷电容器容量命中率的研究 |
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| 引用本文： | 张启龙,杨辉,王家邦,魏文霖. 多层片式陶瓷电容器容量命中率的研究[J]. 材料科学与工程学报, 2003, 21(1): 72-75 |
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| 作者姓名： | 张启龙 杨辉 王家邦 魏文霖 |
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| 作者单位： | 浙江大学材料系无机非金属材料研究所,浙江,杭州,310027 |
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| 摘 要： | 多层片式陶瓷电容器 (MLCC)容量命中率低是生产中普遍存在的问题。本文通过微观结构、金属层和介质层厚度、以及工序因素分析 ,探讨了引起MLCC容量分散的主要原因 ,提出了工序中应控制的因素 ,为MLCC生产过程控制、提高容量命中率提供了依据。
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| 关 键 词： | 多层陶瓷电容器 微观结构 命中率 |
| 文章编号： | 1004-793X(2003)01-0072-04 |
| 修稿时间： | 2002-06-04 |
Study on the Yield of MLCC's Capacitance |
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| ZHANG Qi-long,YANG Hui,WANG Jia-bang,GE Man-zhen. Study on the Yield of MLCC's Capacitance[J]. Journal of Materials Science and Engineering, 2003, 21(1): 72-75 |
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| Authors: | ZHANG Qi-long YANG Hui WANG Jia-bang GE Man-zhen |
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| Abstract: | The low yield of MLCC"s Capacitance is a ubiquitous question. Microstructure, metal layer and dielectric layer, working produre factor has been researched. It is discussed that the major cause which lead to capacitance decentralization. Put forward controlling factor in working procedure, offer the gist by which MLCC procedure controll, improve the yield of MLCC's Capacitance. |
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| Keywords: | MLCC" s,microstructure,yield |
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