| 利用光纤Bragg光栅测量压电晶体的特性曲线 |
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| 引用本文： | 李志全,吴飞,蔡璐璐. 利用光纤Bragg光栅测量压电晶体的特性曲线[J]. 仪器仪表学报, 2004, 25(1): 111-113 |
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| 作者姓名： | 李志全 吴飞 蔡璐璐 |
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| 作者单位： | 燕山大学,秦皇岛,066004 |
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| 摘 要： | 应用逆压电效应 ,在低频直流条件下 ,提出利用光纤 Bragg光栅测量压电晶体的特性曲线。推导出了 Bragg反射波长λB随应力变化的关系式 ,并设计了合理的结构以直接测量 PZT的位移量。通过实际测量给出的 PZT电压—位移曲线表明 :该系统测量方法结构简单 ,测量精度高 ,能进行实时测量。
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| 关 键 词： | 光纤光栅 压电晶体 电压 |
| 修稿时间： | 2002-02-01 |
The Measurement of the Characteristic Curve of Piezocrystal with Fiber Bragg Grating |
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| Li Zhiquan Wu Fei Cai Lulu. The Measurement of the Characteristic Curve of Piezocrystal with Fiber Bragg Grating[J]. Chinese Journal of Scientific Instrument, 2004, 25(1): 111-113 |
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| Authors: | Li Zhiquan Wu Fei Cai Lulu |
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| Keywords: | Fiber grating Piezocrystal Voltage |
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