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Mg掺杂AlInP 650 nm LD外延片的Zn扩散研究
引用本文:李树强,马德营,夏伟,陈秀芳,张新,任忠祥,徐现刚,蒋民华. Mg掺杂AlInP 650 nm LD外延片的Zn扩散研究[J]. 光电子.激光, 2006, 17(7): 854-856
作者姓名:李树强  马德营  夏伟  陈秀芳  张新  任忠祥  徐现刚  蒋民华
作者单位:1. 山东大学晶体材料国家重点实验室,山东,济南,250100;山东华光光电子有限公司,山东,济南,250101
2. 山东大学晶体材料国家重点实验室,山东,济南,250100
3. 山东华光光电子有限公司,山东,济南,250101
摘    要:利用石英闭管法,对Mg掺杂AlInP 650 nm LD外延片进行Zn扩散,分析了扩散温度和时间2个参数对Zn扩散的影响.采用光致发光(PL)谱和电化学蒸涂(ECV)方法研究了Zn扩散产生的影响.PL谱结果表明,Zn扩散引起了AlGaInP/GaInP多量子阱(MQW)有源层的组分无序,使PL谱的峰值蓝移,最大蓝移为54 nm,约175 meV.ECV测量结果显示,Zn已经扩散到MQW有源区,MQW区域的p型载流子浓度为4.4×1017 cm-3.

关 键 词:AlGaInP/GaInP量子阱  Zn扩散  组分无序
文章编号:1005-0086(2006)07-0854-03
收稿时间:2005-11-19
修稿时间:2005-11-192006-03-20

Zinc Diffusion in 650 nm Laser Diode Epitaxy Wafer with Mg Doped AlInP Layer
LI Shu-qiang,MA De-ying,XIA Wei,CHEN Xiu-fang,ZHANG Xin,REN Zhong-xiang,XU Xian-gang,JIANG Min-hua. Zinc Diffusion in 650 nm Laser Diode Epitaxy Wafer with Mg Doped AlInP Layer[J]. Journal of Optoelectronics·laser, 2006, 17(7): 854-856
Authors:LI Shu-qiang  MA De-ying  XIA Wei  CHEN Xiu-fang  ZHANG Xin  REN Zhong-xiang  XU Xian-gang  JIANG Min-hua
Abstract:
Keywords:AlGaInP/GaInP quantum wells Zn diffusion   layer disordered
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