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新型发射极指组合结构功率SiGe HBT热分析
引用本文:胡宁,张万荣,谢红云,金冬月,陈亮,沈珮,黄璐,黄毅文,王扬.新型发射极指组合结构功率SiGe HBT热分析[J].微电子学,2010,40(2).
作者姓名:胡宁  张万荣  谢红云  金冬月  陈亮  沈珮  黄璐  黄毅文  王扬
作者单位:北京工业大学,电子信息与控制工程学院,北京,100124
基金项目:国家自然科学基金资助项目(60776051,60376033);;北京市自然科学基金资助项目(4082007);;北京市教委科技发展计划项目(KM200710005015,KM200910005001);;北京市优秀跨世纪人才基金资助项目(67002013200301);;北京工业大学第一届博士研究生创新计划项目(bcx—2009—012);;模拟集成电路国家级重点实验室基金资助项目(51439010804QT0101)
摘    要:提出了一种发射极指分段和非均匀发射极指长、指间距组合的新型器件结构,以改善多指功率硅锗异质结双极晶体管(SiGe HBT)的热稳定性。考虑器件具有多层热阻,发展建立了相应的热传导模型。以十指功率SiGe HBT为例,运用有限元方法对其进行热模拟,得到三维温度分布。与传统发射极结构器件相比,新结构器件最高结温从416.3 K下降到405 K,各个发射指上的高低温差从7 K~8 K下降为1.5 K~3 K,热阻值下降14.67 K/W,器件整体温度分布更加均匀。

关 键 词:异质结双极晶体管  发射极分段  有限元方法  热模拟  

Thermal Analysis of Power SiGe HBT with Novel Composite Emitter Structure
HU Ning,ZHANG Wanrong,XIE Hongyun,JIN Dongyue,CHEN Liang,SHEN Pei,HUANG Lu,HUANG Yiwen,WANG Yang.Thermal Analysis of Power SiGe HBT with Novel Composite Emitter Structure[J].Microelectronics,2010,40(2).
Authors:HU Ning  ZHANG Wanrong  XIE Hongyun  JIN Dongyue  CHEN Liang  SHEN Pei  HUANG Lu  HUANG Yiwen  WANG Yang
Affiliation:College of Electronic Information and Control Engineering/a>;Beijing University of Technology/a>;Beijing 100124/a>;P.R.China
Abstract:A novel segmented emitter structure with non-uniform finger length and spacing was proposed to improve thermal stability of multi-finger SiGe HBT power device.Considering various thermal resistances of different components for multi-finger HBT,an appropriate thermal model was developed.By using finite element thermal simulation model,thermal simulation was performed for ten-finger power SiG-e HBT with novel composite emitter structure and 3-dimensional temperature distribution was obtained.Compared with tra...
Keywords:Heterojunction bipolar transistor  Segmented emitter  Finite element method  Thermal simulation  
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