| 基于码流的软件控制FPGA故障注入系统 |
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| 引用本文： | 于婷婷,陈雷,李学武,王硕,周婧. 基于码流的软件控制FPGA故障注入系统[J]. 微电子学, 2017, 47(4): 553-556, 561 |
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| 作者姓名： | 于婷婷 陈雷 李学武 王硕 周婧 |
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| 作者单位： | 北京微电子技术研究所, 北京 100076,北京微电子技术研究所, 北京 100076,北京微电子技术研究所, 北京 100076,北京微电子技术研究所, 北京 100076,北京微电子技术研究所, 北京 100076 |
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| 摘 要： | 基于静态随机存储器的现场可编程逻辑门阵列应用于航天电子系统时,易受到单粒子翻转效应的影响,存储数据会发生损坏。为评估器件和电路在单粒子翻转效应下的可靠性,提出一种基于TCL脚本控制的故障注入系统,可在配置码流层面模拟单粒子翻转效应。介绍了该故障注入系统的实现机制和控制算法,并将该软件控制方法与传统硬件控制方法进行对比分析。设计了一种关键位故障模型,从设计网表中提取关键位的位置信息,缩小了故障注入的码流范围。在Virtex-5开发板XUPV5-LX110T上的故障注入实验表明,该故障注入系统能有效模拟单粒子翻转效应,与传统随机位故障注入相比,关键位故障注入的故障率提高了近5倍。
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| 关 键 词： | 单粒子翻转 现场可编程逻辑门阵列 故障注入 TCL脚本 关键位 |
| 收稿时间： | 2016-10-09 |
A Software Controlled FPGA Fault Injection System Based on Bitstream |
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| YU Tingting,CHEN Lei,LI Xuewu,WANG Shuo and ZHOU Jing. A Software Controlled FPGA Fault Injection System Based on Bitstream[J]. Microelectronics, 2017, 47(4): 553-556, 561 |
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| Authors: | YU Tingting CHEN Lei LI Xuewu WANG Shuo ZHOU Jing |
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| Affiliation: | Beijing Microelectronics Technology Institute, Beijing 100076, P. R. China,Beijing Microelectronics Technology Institute, Beijing 100076, P. R. China,Beijing Microelectronics Technology Institute, Beijing 100076, P. R. China,Beijing Microelectronics Technology Institute, Beijing 100076, P. R. China and Beijing Microelectronics Technology Institute, Beijing 100076, P. R. China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | |
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