|
|||||
|
|
| 基于微波光子晶体缺陷模特性的材料介电损耗测量方法 | |
| 作者姓名： | 梅永 庄建军 王刚 乔欣然 |
| 作者单位： | 南京信息工程大学工程训练中心 南京210044;南京信息工程大学电子与信息工程学院 南京210044 |
| 摘 要： | 为了精准测量电子材料在特定微波工作频率的介电损耗,提出一种基于微波光子晶体缺陷模特性的材料介电损耗测量方法.利用缺陷微波光子晶体结构的微波局域特性,将被测材料设计为微波光子晶体的缺陷层结构;采用传输矩阵方法计算和模拟了缺陷透射峰值与被测材料介电损耗之间的关系.结果 表明,被测材料的介电损耗因数与缺陷透射峰值呈显著的单值... |
| 关 键 词： | 微波光子晶体 介电损耗 传输矩阵 缺陷模 |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ | |
| 点击此处可从《电子测量技术》浏览原始摘要信息 | |
| 点击此处可从《电子测量技术》下载全文 | |