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高强度短寿命核素对其它峰计数率和半衰期影响的研究
引用本文:秦建国,赖财锋,张信威,蒋励.高强度短寿命核素对其它峰计数率和半衰期影响的研究[J].核电子学与探测技术,2013,33(4).
作者姓名:秦建国  赖财锋  张信威  蒋励
作者单位:1. 中国工程物理研究院核物理与化学研究所,四川绵阳,621900
2. 北京应用物理与计算数学研究所,北京,100094
摘    要:利用HPGe探测器及DSPECPlus谱仪的活时间校准模式(LTC)和零死时间校准模式(ZDT),对含有高强度短寿命核素的混合样品作了测量.结果表明:在计数率急剧变化的情况下,LTC方法测得的峰计数经修正以后仍然存在计数丢失;与ZDT模式的数据相比,初始阶段数据丢失率约2.0%~3.8%.这部分不能正确修正的计数对短寿命核素的半衰期几乎没有影响,但是对半衰期相对较长的核素有一定的影响,实验中,LTC和ZDT两种模式下24Na的半衰期相差了2.56%.

关 键 词:短寿命核素  死时间  活时间校准模式  零死时间校准模式  计数率  半衰期

The Effects of High-intensity Short-lived Nuclides on Count Rate and Half-life
QIN Jian-guo , LAI Cai-feng , ZHANG Xin-wei , JIANG Li.The Effects of High-intensity Short-lived Nuclides on Count Rate and Half-life[J].Nuclear Electronics & Detection Technology,2013,33(4).
Authors:QIN Jian-guo  LAI Cai-feng  ZHANG Xin-wei  JIANG Li
Abstract:
Keywords:short-lived radioisotopes  dead-time  LTC  ZDT  count-rate  half-life
本文献已被 万方数据 等数据库收录!
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