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基体偏压对高功率脉冲磁控溅射制备CrAlN薄膜性能的影响
引用本文:张辉,巩春志,王晓波,张炜鑫,田修波.基体偏压对高功率脉冲磁控溅射制备CrAlN薄膜性能的影响[J].中国表面工程,2022,35(5):200-209.
作者姓名:张辉  巩春志  王晓波  张炜鑫  田修波
作者单位:哈尔滨工业大学先进焊接与连接国家重点实验室 哈尔滨 150001;中国工程物理研究院材料研究所 绵阳 621900
基金项目:黑龙江省自然科学基金联合引导项目(LH2019A014)和国家自然科学基金(11875119 和 12075071)资助项目
摘    要:为了防止氢扩散导致金属材料的失效,通常在其表面制备一层 CrN 阻氢薄膜。但是 CrN 涂层的热稳定性较差,抗氧化温度低于 600 ℃。采用高功率脉冲磁控溅射技术,利用 Cr 和 Al 双靶共沉积 CrAlN 薄膜来提高其高温抗氧化性能。试验变量为基体负偏压的大小,分别为-100 V、-200 V、-300 V 和-400 V。结果表明,四组 CrAlN 薄膜均为柱状晶结构,随着基体偏压提高,膜层的致密度提高,但同时薄膜沉积速率下降;CrAlN 薄膜的择优生长方向为 Cr(200)晶面法线方向。四组 CrAlN 薄膜的氢抑制率均超过 70%,氢原子扩散系数最低比 316L 不锈钢基体低 3 个数量级。当基体偏压为-300 V 时,可以同时获得最优的氢抑制率(87.4%)和最低的氢原子扩散系数(6.188×10?10 cm2 / s)。600 ℃、氧气气氛下保温 60 min,CrAlN 膜基结合面处氧含量仅为表面处的 30%左右。相比于 CrN 薄膜,在相同基体偏压下,CrAlN 薄膜的氢原子扩散系数更小;高偏压下制备的 CrAlN 薄膜氧增重量仅为 316L 不锈钢基体的 10%,抗氧化性能更好。

关 键 词:CrAlN  高功率脉冲磁控溅射  基体偏压  阻氢  高温抗氧化

Effect of Substrate Bias on the Properties of Craln Films Prepared by High Power Pulsed Magnetron Sputtering
ZHANG Hui,GONG Chunzhi,WANG Xiaobo,ZHANG Weixin,TIAN Xiubo.Effect of Substrate Bias on the Properties of Craln Films Prepared by High Power Pulsed Magnetron Sputtering[J].China Surface Engineering,2022,35(5):200-209.
Authors:ZHANG Hui  GONG Chunzhi  WANG Xiaobo  ZHANG Weixin  TIAN Xiubo
Affiliation:State Key Laboratory of advanced welding and joining, Harbin Institute of Technology,Harbin 150001 , China;Institute of Materials, China Academy of Engineering Physics, Mianyang 621900 , China
Abstract:
Keywords:
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