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基于FPGA的CCD扫描缺陷检测实时数据处理技术
引用本文:李长明,徐国盛.基于FPGA的CCD扫描缺陷检测实时数据处理技术[J].仪表技术与传感器,2009(12).
作者姓名:李长明  徐国盛
作者单位:潍坊学院,山东潍坊,261061 
摘    要:针对交联聚乙烯(XLPE)电缆绝缘料纯净度检测的问题,研制了基于现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)的高速扫描测量系统.该系统是具有显微图像实时记录、处理和显示功能的材料表面缺陷检测技术,对材料的分选和材料质量的检查及评价具有重要的意义.以聚合物薄膜材料为被测对象,研究了适用于材料表面缺陷检测的基于FPGA的缺陷数据实时处理技术,可实时提供缺陷显微图像信息,完成了对现有材料缺陷检测装置的数字化改造与性能扩展.实验结果表明:应用了基于FPGA的缺陷数据实时处理技术的CCD扫描缺陷检测装置可对70~1 000 μm范围内的缺陷进行有效检测,实时重建的缺陷显微图像与实际缺陷在形状和灰度上都有很好的一致性.

关 键 词:数据处理  缺陷检测  现场可编程门阵列  电荷耦合器件

FPGA-Based Real-time Data Processing for CCD Scanning Defects Inspection
Abstract:
Keywords:data processing  defects inspection  field programmable gate array  charge coupled device
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