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带有静电自检测功能的高灵敏度加速度传感器
引用本文:程保罗,李昕欣,王跃林,焦继伟,车录锋,杨恒,戈肖鸿,宋朝晖.带有静电自检测功能的高灵敏度加速度传感器[J].半导体学报,2005,26(3):547-553.
作者姓名:程保罗  李昕欣  王跃林  焦继伟  车录锋  杨恒  戈肖鸿  宋朝晖
作者单位:中国科学院上海微系统与信息技术研究所传感技术国家重点联合实验室,中国科学院上海微系统与信息技术研究所传感技术国家重点联合实验室,中国科学院上海微系统与信息技术研究所传感技术国家重点联合实验室,中国科学院上海微系统与信息技术研究所传感技术国家重点联合实验室,中国科学院上海微系统与信息技术研究所传感技术国家重点联合实验室,中国科学院上海微系统与信息技术研究所传感技术国家重点联合实验室,中国科学院上海微系统与信息技术研究所传感技术国家重点联合实验室,中国科学院上海微系统与信息技术研究所传感技术国家重点联合实验室 上海200050浙江大学信息与电子工程学系,杭州310027,上海200050,上海200050,上海200050,上海200050,上海200050,上海200050,上海200050
摘    要:研究了一种带有自检功能的在平面内自限制压阻式加速度传感器.为实现该加速度传感器,提出了一套新的体硅微机械工艺,使用普通硅片取代SOI硅片来制作器件.传感器采用在深槽侧壁(悬臂梁弯曲的表面)制作压阻的方法,灵敏度比在硅表面上制作压阻的传统器件高近一倍.传感器利用集成在内的静电驱动器,实现电自检测功能.

关 键 词:微机电系统  加速度传感器  自检功能  静电驱动  侧壁扩散  绝缘工艺  静电  检测功能  高灵敏度  压阻式加速度传感器  Technology  Micromachining  Bulk  Advanced  Accelerometers  Performance  驱动器  集成  利用  硅表面  灵敏度比  方法  梁弯曲  悬臂  侧壁  深槽
文章编号:0253-4177(2005)03-0547-07
修稿时间:2004年5月8日

High Performance Accelerometers with Advanced Bulk Micromachining Technology
Cheng Baoluo,Li Xinxin,Wang Yuelin,Jiao Jiwei,Che Lufeng,Yang Heng,Ge Xiaohong,Song Zhaohui.High Performance Accelerometers with Advanced Bulk Micromachining Technology[J].Chinese Journal of Semiconductors,2005,26(3):547-553.
Authors:Cheng Baoluo  Li Xinxin  Wang Yuelin  Jiao Jiwei  Che Lufeng  Yang Heng  Ge Xiaohong  Song Zhaohui
Abstract:An in plane sensitive piezoresistive accelerometer with self test function is proposed.A set of new silicon bulk micromachining process is developed to fabricate the proposed device.With the developed fabrication technique,conventional silicon wafer can be used instead of expensive SOI wafer. This design doubles the sensitivity by putting the piezoresistor on the surface of the vertical sidewall of the cantilevers,compared with conventional design.Electrostatic self test function of the accelerometer is also realized by integrated actuator.
Keywords:MEMS  accelerometer  self  test function  electrostatic drive  sidewall diffusion  isolation technology
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