溶胀作用对裂片径迹直径法测体蚀刻速度的影响 |
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作者姓名: | 翟鹏济 康铁笙 |
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作者单位: | 中国科学院高能物理研究所(翟鹏济),中国科学院高能物理研究所(康铁笙) |
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摘 要: | 对于聚碳酸酯,在某些条件下由α径迹直径法得到的体蚀刻速度V_B比厚度法大。本文对这一差异的原因进行了探讨,实验方法及结果如下: 所用探测器材料是Lexan、朝阳1号和Makrofol-E三种聚碳酸酯。这些膜两面蚀刻性质相同,故采用双面蚀刻法。用各蚀刻时间t时的~(252)Cf裂片径迹直径φ与膜的厚差2V_Bt作图。所用蚀刻剂是6.25N NaOH、6.25N KOH、6.25N NaOH+0.05%烷基苯磺酸钠以及
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关 键 词: | 溶胀 体蚀刻速度 聚碳酸酯 核径迹探测器 |
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