Schattenoptische Meßverfahren zur Untersuchung dynamischer Spannungszustände

Zusammenfassung Es wurde ein schattenoptische überlagerungsverfahren (Rasterverfahren) entwickelt, das quantitative Untersuchungen dynamischer Spannungszust?nde in ebenen durchsichtigen oder reflektierenden Modellen erm?glicht. Die Rasterverschiebungen entsprechen der ersten r?umlichen Ableitung der Lichtweg?nderungs-Funktion. Eine automatische Auswertung und eine digitale Integration sind m?glich. Die Rasterverschiebungen lassen sich auch durch ein Moiréverfahren sichtbar machen und durch analoge Integration auswerten. Bei der Erprobung einiger Anwendungsm?glichkeiten dienten Plexiglasscheiben als Modelle. Die bei diesen Verfahren n?tige unscharfe Abbildung des Modells bedingt eine überlagerte Schattenabbildung. Der hierdurch hervorgerufene Fehler wurde experimentell untersucht.