| X射线多晶面探测器衍射系统及其应用 |
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| 引用本文： | 张清辉,陈冷.X射线多晶面探测器衍射系统及其应用[J].中国材料科技与设备,2006,3(1):5-8. |
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| 作者姓名： | 张清辉 陈冷 |
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| 作者单位： | 北京科技大学材料科学与工程学院,北京100083 |
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| 基金项目： | 国家863计划项目（2003AA331080）;教育部科学技术研究重点项目（03183） |
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| 摘 要： | 介绍了目前世界上先进的粉末衍射系统——X射线多晶面探测嚣衍射系统的主要配置、工作原理、二维衍射几何关系以及X射线多晶面探测器衍射系统在材料学研究中的典型应用，重点讨论了在金属的晶体学织构和应力研究中的应用。
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| 关 键 词： | X射线 粉末衍射 面探测嚣 织构 应力 |
Principle and Application of General X - ray Area Detector Diffraction System |
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| ZHANG Qing - hui , CHEN Leng.Principle and Application of General X - ray Area Detector Diffraction System[J].Chinese Materials Science Technology & Equipment,2006,3(1):5-8. |
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| Authors: | ZHANG Qing - hui CHEN Leng |
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| Affiliation: | Department of Materials, University of Science and Technology Beijing, Beijing, 100053, China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | X - ray Powder diffraction Area detector Texture Stress |
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