| 数字VLSI电路测试技术-BIST方案 |
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| 引用本文： | 高平,成立,王振宇,祝俊,史宜巧. 数字VLSI电路测试技术-BIST方案[J]. 半导体技术, 2003, 28(9): 29-32 |
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| 作者姓名： | 高平 成立 王振宇 祝俊 史宜巧 |
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| 作者单位： | 江苏大学电气信息工程学院,江苏,镇江,212013 |
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| 基金项目： | 江苏省高校自然科学研究基金项目资助(02KJB510005)。 |
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| 摘 要： | 分析了数字VLSI电路的传统测试手段及其存在问题,通过对比的方法,讨论了内建自测试(BIST)技术及其优点,简介了多芯片组件(MCM)内建自测试的目标、设计和测试方案。
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| 关 键 词： | 集成电路 内建自测试 多芯片组件 |
| 文章编号： | 1003-353X(2003)09-0029-04 |
A built-in self-test technology of digital VLSI circuits |
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| GAO Ping,CHENG Li,WANG Zhen-yu,ZHU Jun,SHI Yi-qiao. A built-in self-test technology of digital VLSI circuits[J]. Semiconductor Technology, 2003, 28(9): 29-32 |
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| Authors: | GAO Ping CHENG Li WANG Zhen-yu ZHU Jun SHI Yi-qiao |
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| Abstract: | The traditional testing means and their disadvantages are analysed. The advantagesand means of built-in self-test(BIST) are exhaustively discussed. At last, a multi-chip module(MCM)BIST scheme is briefly introduced by comparison. |
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| Keywords: | IC built-in self-test(BIST) multi-chip module(MCM) |
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