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NAND Flash存储的坏块管理方法
引用本文:舒文丽,吴云峰,赵启义,孙长胜.NAND Flash存储的坏块管理方法[J].电子器件,2011,34(5):580-583.
作者姓名:舒文丽  吴云峰  赵启义  孙长胜
作者单位:电子科技大学光电信息学院;
摘    要:针对NAND Flash海量存储时对数据可靠性的要求,提出了一种基于在FPGA内部建立RAM存储有效块地址的坏块管理方法。在海量数据存储系统中,通过调用检测有效块地址函数确定下一个有效块地址并存入建好的寄存器中,对NANDFlash进行操作时,不断更新和读取寄存器的内容,这样就可以实现坏块的管理。实验证明,本方法可以大大减小所需寄存器的大小并节省了FPGA资源,经过对坏块的管理,可以使数据存储的可靠性有很大的提升。

关 键 词:NAND  Flash  坏块管理  坏块替换  ECC纠错  FAT文件系统

Bad Block Management Method of NAND Flash Memory
SHU Wenli,WU Yunfeng,ZHAO Qiyi,SUN Changsheng.Bad Block Management Method of NAND Flash Memory[J].Journal of Electron Devices,2011,34(5):580-583.
Authors:SHU Wenli  WU Yunfeng  ZHAO Qiyi  SUN Changsheng
Affiliation:SHU Wenli,WU Yunfeng*,ZHAO Qiyi,SUN Changsheng(School of Optoelectronic Information,University of Electronic Science and Technology of China,Chengdu 610051,China)
Abstract:Aiming at the request of mass data storage about NAND Flash,this paper proposes a management method with bad block based on setting up RAM to store effective block address in FPGA.In the system of mass data storage,next effective block address is determined and stored in built register,according to calling testing effective block address function.When operating NAND Flash,the contents of register are constantly updated and read so that bad blocks can be managed.Tests show that this method can greatly reduce...
Keywords:NAND Flash  bad block management  bad block replacement  ECC error correction  FAT file system  
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