| 基于复用的SOC测试技术 |
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| 引用本文： | 王红,邢建辉,杨士元. 基于复用的SOC测试技术[J]. 半导体技术, 2004, 29(5): 49-51 |
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| 作者姓名： | 王红 邢建辉 杨士元 |
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| 作者单位： | 清华大学自动化系,北京,100084;清华大学自动化系,北京,100084;清华大学自动化系,北京,100084 |
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| 摘 要： | 复用不仅是SOC设计思想的核心,也是解决SOC测试的基础.本文在分析SOC的基本概念和特点的基础上,从复用的角度对现有的SOC测试方案进行分析和综述,并探讨了亟待解决的问题.
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| 关 键 词： | 芯片上系统 测试 复用 |
| 文章编号： | 1003-353X(2004)05-0049-03 |
| 修稿时间： | 2003-04-16 |
SOC testing based on reuse |
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| WANG Hong,XING Jian-hui,YANG Shi-yuan. SOC testing based on reuse[J]. Semiconductor Technology, 2004, 29(5): 49-51 |
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| Authors: | WANG Hong XING Jian-hui YANG Shi-yuan |
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| Abstract: | SOC is increasingly designed by embedding reusable cores. A reuse-based teststrategy for such ICs is often attractive and sometimes even mandatory. Main kinds of SOC teststrategies are analyzed and surveyed from the reuse point. Finally, we discuss the issues remain tobe resolved. |
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| Keywords: | SOC test reuse |
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