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| 基于级联式卷积神经网络的芯片检测方法 | |
| 引用本文： | 安胜彪,杨旭,陈书旺,赵立欣,李亚航,白宇.基于级联式卷积神经网络的芯片检测方法[J].无线电工程,2022(5):880-887. |
| 作者姓名： | 安胜彪 杨旭 陈书旺 赵立欣 李亚航 白宇 |
| 摘 要： | 在智能物料排序系统中,芯片存在大小不一、 分布密集、 摆放角度多样性的情况.针对小体积和带有角度的目标在大尺寸拍摄图像中检测精度较低的问题,提出了一种基于级联式卷积神经网络的芯片识别定位方法来检测芯片的位置和角度.搭建二级级联神经网络,第1级网络利用改进后的YOLOv5s模型检测芯片位置,根据所得位置裁剪出单个芯片图像... |
| 关 键 词： | 芯片识别定位 级联 关键点检测 大尺寸图像 旋转角度 |