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基于SST89E58RD2的智能测试系统设计
引用本文:郑蓓林,俞利明.基于SST89E58RD2的智能测试系统设计[J].现代电子技术,2006,29(15):85-87.
作者姓名:郑蓓林  俞利明
作者单位:杭州职业技术学院 浙江杭州310018(郑蓓林),浙江中控技术有限公司 浙江杭州310053(俞利明)
摘    要:介绍了一种基于SST89E58RD2适用于中小电子、电气类产品测试的智能系统设计方案,详细描述了针对麻将机主板测试的系统实现过程,从SST89E58RD2单片机的特性、智能测试系统方案以及后续的功能展望等部分进行阐述。该智能测试系统的成功应用证明了设计的正确性以及可行性,取得了良好的经济效益。

关 键 词:智能  SPI下载  DI  DO  FLASH存储器
文章编号:1004-373X(2006)15-085-03
收稿时间:2006-03-07
修稿时间:2006年3月7日

Design of Intelligent Test System Based on SST89E58RD2
ZHENG Peilin ,YU Liming.Design of Intelligent Test System Based on SST89E58RD2[J].Modern Electronic Technique,2006,29(15):85-87.
Authors:ZHENG Peilin  YU Liming
Affiliation:1. Hangzhou Professional Technical College, Hangzhou, 310018, China ; 2. Zhejiang Supcon Technology Co. Ltd. , Hangzhou, 310053, China
Abstract:
Keywords:intelligent  SPI download  DI  DO  FLASH memory  
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