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| ~(67)Ga衰变率和~(67)Zn亚稳态有关核参数的测定 | |
| 作者姓名： | 兰云霞 谢炳华 王章智 |
| 作者单位： | 中国科学院上海原子核研究所(兰云霞，谢炳华)，中国科学院上海原子核研究所(王章智) |
| 摘 要： | 本文描述了用4πx(LS)-γ符合技术测定~(67)Ga衰变率的精确方法[不确定度±0.05％(3σ)]。通过把X道的计数率外推到100％的效率和无限长的死时间,同时确定了子体~(67)Zn亚稳态的半衰期和内转换跃迁强度。 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
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