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| 基板封装注塑中芯片断裂的有限元分析 | |
| 作者姓名： | 顾骁 宋健 顾炯炯 李全兵 |
| 作者单位： | 江苏长电科技股份有限公司,江苏无锡214437 |
| 摘 要： | 在基板封装注塑工序中,芯片有断裂风险.利用有限元方法建立封装模型,施加注塑压力载荷和约束条件,计算芯片在注塑压力下的应力云图.研究发现,芯片产生应力的主要原因为基板底面无阻焊层区域在注塑压力下发生了凹陷.基板增厚,芯片增厚,阻焊层减薄和注塑压力减小对应力有明显改善.此外,芯片与基板底面无阻焊层区的相对位置也是影响因素之... |
| 关 键 词： | 基板封装 芯片断裂 注塑压力 有限元分析 阻焊层 |
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