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基于数据分析科学降低芯片测试成本

作者单位：	中科芯集成电路有限公司,江苏无锡214072

基金项目：	江苏省科技成果转化高性能实时微处理器系列产品研发及产业化

摘要：
关键词：	晶圆测试晶圆可接受度测试成测数据分析
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