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基于JTAG的SoC片上调试系统设计
引用本文:陈锐. 基于JTAG的SoC片上调试系统设计[J]. 电子设计工程, 2015, 0(3): 154-156
作者姓名:陈锐
作者单位:空间电子信息技术研究院 空间通信与测控技术研究所,陕西 西安,710000
摘    要:文章提出了一种基于JTAG的SoC片上调试系统设计方法,该系统主要包括JTAG接口和片上调试模式控制单元。通过执行不同的操作指令,该片上调试系统可实现断点设置、单步执行、寄存器和存储器内容监控、在线编程以及程序运行现场设置等调试功能。文章同时说明了片上调试系统的工作原理和硬件架构。

关 键 词:So C  片上调试系统  JTAG  指令

On-chip debug system design based on JTAG for SoC
CHEN Rui. On-chip debug system design based on JTAG for SoC[J]. Electronic Design Engineering, 2015, 0(3): 154-156
Authors:CHEN Rui
Affiliation:CHEN Rui;Institute of Space Communication and Telemetry & Telecontrol, Academy of Space Electronic Information Technology;
Abstract:
Keywords:SoC  On-chip debug system  JTAG  instruction
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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