| 两种系统级单粒子效应容错方法性能仿真分析 |
| |
| 引用本文： | 贺兴华,肖山竹,张开锋,张路,卢焕章.两种系统级单粒子效应容错方法性能仿真分析[J].信号处理,2010,26(2). |
| |
| 作者姓名： | 贺兴华 肖山竹 张开锋 张路 卢焕章 |
| |
| 作者单位： | 1. 国防科学技术大学ATR国防重点实验室,湖南长沙,410073;中国人民解放军69026部队,新疆乌鲁木齐,830092
2. 国防科学技术大学ATR国防重点实验室,湖南长沙,410073 |
| |
| 基金项目： | "863"高技术计划基金资助课题 |
| |
| 摘 要： | 基于VLSI的信息处理系统空间应用时容易遭受单粒子翻转效应(SEU:Single Event Upset)的影响.基于结构冗余的三模冗余(TMR:Three Module Redundancy)和基于信息冗余的错误检纠错(EDAC:Error Detection and Correction)是两种常见的系统级抗单粒子翻转的容错方法,被广泛应用于空间信息处理系统中.从可靠性改进、存储资源占用、硬件实现代价以及实现延时等四个方面,对两种方法进行了性能分析和仿真实验.性能分析和仿真实验结果表明,EDAC方法适合应用于基本数据宽度较大、存储资源受限、实时性要求不高的应用中,结构TMR方法适合应用于基本数据宽度较小、存储资源充足、实时性要求较高的应用中.
|
| 关 键 词： | 单粒子翻转效应 容错 失效率 仿真分析 |
Simulation and Analysis of Two Kinds of System Level Fault-Tolerance Methods for SEU |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | SEU Fault-Tolerance Failure Rate Simulation and Analysis |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ |
|
