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基于同位素示踪法的微量O2对电弧放电下SF6分解产物影响的研究
引用本文:张振乾,杨韧,徐留玉,徐孟元,高超,李小全,张万军.基于同位素示踪法的微量O2对电弧放电下SF6分解产物影响的研究[J].高压电器,2024(2):192-199.
作者姓名:张振乾  杨韧  徐留玉  徐孟元  高超  李小全  张万军
作者单位:1. 中国电力科学研究院有限公司;2. 国网陕西省电力有限公司电力科学研究院;3. 山东泰开高压开关有限公司
摘    要:SF6气体绝缘开关设备电弧放电下O2对SF6分解产物具有显著影响,但其影响规律及相关作用机制目前尚不清楚。针对这一问题,文中利用18O2作为示踪剂开展了电弧放电实验,利用GC-MS分析了放电过程中和放电后含18O同位素物质的变化规律,明确了电弧放电下SF6分解产物的形成途径及18O2对SF6分解产物的影响,阐明了其深层化学反应机理。结果表明,电弧放电下O2杂质会在不同程度上促进SOF2、SO2、SO2F2、CO2的生成,其中O2主要以分解后的O原子参与SOF2、SO2、CO2的生成反应,以O2分子和分解后的O原子共同参与SO

关 键 词:SF6分解产物  电弧放电  影响规律  氧同位素示踪法
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