基于同位素示踪法的微量O2对电弧放电下SF6分解产物影响的研究 |
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引用本文: | 张振乾,杨韧,徐留玉,徐孟元,高超,李小全,张万军.基于同位素示踪法的微量O2对电弧放电下SF6分解产物影响的研究[J].高压电器,2024(2):192-199. |
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作者姓名: | 张振乾 杨韧 徐留玉 徐孟元 高超 李小全 张万军 |
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作者单位: | 1. 中国电力科学研究院有限公司;2. 国网陕西省电力有限公司电力科学研究院;3. 山东泰开高压开关有限公司 |
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摘 要: | SF6气体绝缘开关设备电弧放电下O2对SF6分解产物具有显著影响,但其影响规律及相关作用机制目前尚不清楚。针对这一问题,文中利用18O2作为示踪剂开展了电弧放电实验,利用GC-MS分析了放电过程中和放电后含18O同位素物质的变化规律,明确了电弧放电下SF6分解产物的形成途径及18O2对SF6分解产物的影响,阐明了其深层化学反应机理。结果表明,电弧放电下O2杂质会在不同程度上促进SOF2、SO2、SO2F2、CO2的生成,其中O2主要以分解后的O原子参与SOF2、SO2、CO2的生成反应,以O2分子和分解后的O原子共同参与SO
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关 键 词: | SF6分解产物 电弧放电 影响规律 氧同位素示踪法 |
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