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| 微电阻率扫描成像测井在裂缝性地层的应用 | |
| 引用本文： | 于辉,丁松林.微电阻率扫描成像测井在裂缝性地层的应用[J].测井与射孔,2004,7(3):34-37. |
| 作者姓名： | 于辉 丁松林 |
| 作者单位： | [1]胜利测井公司 [2]大庆测井公司 |
| 摘 要： | 地层微电阻率扫描测井是新一代成像测井技术的代表，具有极高的分辨率，能直观的反映井壁的电阻率变化，通过成像的方式反映地层特征。地层微电阻率扫描成像在构造识别方面发挥着重要作用，同时，在储层性质的评价和地应力分析方面也有着广泛的应用。 |
| 关 键 词： | 微电阻率 地层特征 成像测井技术 裂缝性 扫描 储层性质 地应力 井壁 |
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