一种小型高集成智能测试装置的设计与实现 |
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引用本文: | 王志颖,熊光泽. 一种小型高集成智能测试装置的设计与实现[J]. 电子技术应用, 2004, 30(12): 35-38 |
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作者姓名: | 王志颖 熊光泽 |
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作者单位: | 四川绵阳中国工程物理研究院电子工程研究所,621900;四川成都电子科技大学计算机学院,610054 |
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摘 要: | 介绍了一种采用单片机、PSD、CPLD和电压调理电路等主要组件设计的一类针对安全关:键系统的信息采集与控制装置。实际测试表明,这种设计方法不仅是高效可行的,也是保证测试装置小型化、集成化、智能化和提高测试系统可靠性的途径之一。
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关 键 词: | 智能测试 安全关键系统 单片机 集成测试 |
修稿时间: | 2004-08-20 |
Design and implementation of a high-integration intelegent test device |
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Abstract: | |
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Keywords: | |
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