双1/4波片调节同光路干涉条纹反差的研究

同光路干涉方式虽可降低对光学系统调整的精度要求,但当用它测量不同反射率的光学零件时必须更换带不同反射率标准面的各部件,操作麻烦、附件繁多。本文提出了用两块1/4波片调整同光路参考光束与被测光束光强的方法。将两波片同时转动一个相同的角度,即可得高反差的干涉条纹。此法不仅对高反射率的零件而且对低反射率的零件都适用。