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CCD和电寻址液晶在全息位移测量中的应用
引用本文:范真节,宁成达,逄浩君,王文生.CCD和电寻址液晶在全息位移测量中的应用[J].激光与光电子学进展,2010(6).
作者姓名:范真节  宁成达  逄浩君  王文生
摘    要:将CCD与电寻址液晶(EALCD)相结合,CCD作为记录介质,用于全息图和全息再现像的记录,EALCD则代替传统光学全息中曝光后的全息干板,用于数字全息图的再现。这种方法不仅避免了传统全息记录材料显影、定影等过程,也避免了全息材料非线性记录等缺点,并可以实现普通的数字全息较难实现的基于相位移法的位移测试。利用双曝光数字全息干涉法,在实验中对反射式被测物体生成的菲涅耳全息图进行了光学再现,并得到了准确的数据,验证了该方法的实用性。实验结果表明,CCD与EALCD相结合,可以实现数字全息图的光学再现,通过获得的干涉条纹,可精确测定物体位移量。

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