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CMP技术的简介
引用本文:康洪亮,王云彪,黄彬,张春翔,吴桐.CMP技术的简介[J].中国科技博览,2013(17):322-323.
作者姓名:康洪亮  王云彪  黄彬  张春翔  吴桐
作者单位:中国电子科技集团公司第四十六研究所
摘    要:本文通过查阅一些文献,简单的介绍了化学机械抛光技术的基本原理.对影响化学机械抛光的主要因素进行了主要分析,井对其研究发展趋势进行了一下展望,以方便读者对化学机械抛光技术进行初步了解。

关 键 词:化学机械抛光  抛光液  抛光垫  影响因素  发展趋势
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