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| 凌华科技：倡导开放架构，引领测控趋势 | |
| 摘 要： | 3月13日，“凌华2003测控技术先锋论坛” 在北京天鸿科园大酒店举行，来自中国自动化学会、计算机协会、清华大学的测控专家及各行各业测控技术人员300多人参加了会议。与会专家在会上做了“我国计算机应用的发展现状与趋势预测”、“现场总线的技术发展与应用动态”、“工业信息化中的测控技术发展趋势”等题目的主题演讲，就当今测控最新技术及其在不同行业的应用等问题进行深入探讨，从专业的角度为现场听众描绘了未来测控技术的发展方向和前景。会上凌华科技向用户展示并讲解了其业界领先的测控产品和解决方案：采样率高达60Msps的数据… |
| 关 键 词： | 凌华科技公司 测控技术 开放架构 PXI系统 CompactPCI平台 |
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