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设计混合讯号ASIC时考虑可测性
引用本文:徐执模.设计混合讯号ASIC时考虑可测性[J].电子测试,1994,8(2):44-47.
作者姓名:徐执模
摘    要:如果你不能够充分测试你设计的混合讯号的ASIC(专用集成电路),除了将会造成在现场穷于应付系统的失效之外,还要为进货检验花费高额费用,产品的交货期也会推迟,而且还要频繁地对产品进行工程支持。为了避免这些令人头疼的情况出现。在ASIC内部需设置预防性设计以便使器件易于测试。

关 键 词:专用集成电路  混合讯号  设计  可测性  集成电路
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