设计混合讯号ASIC时考虑可测性 |
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引用本文: | 徐执模.设计混合讯号ASIC时考虑可测性[J].电子测试,1994,8(2):44-47. |
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作者姓名: | 徐执模 |
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摘 要: | 如果你不能够充分测试你设计的混合讯号的ASIC(专用集成电路),除了将会造成在现场穷于应付系统的失效之外,还要为进货检验花费高额费用,产品的交货期也会推迟,而且还要频繁地对产品进行工程支持。为了避免这些令人头疼的情况出现。在ASIC内部需设置预防性设计以便使器件易于测试。
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关 键 词: | 专用集成电路 混合讯号 设计 可测性 集成电路 |
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