| 剑桥S250系列电镜故障检修 |
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| 引用本文： | 何建平,金建灵,崔新发,杨启敏.剑桥S250系列电镜故障检修[J].现代仪器,1999(2). |
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| 作者姓名： | 何建平 金建灵 崔新发 杨启敏 |
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| 作者单位： | 北京科技大学新金属材料国家重点实验室，北京科技大学新金属材料国家重点实验室，北京科技大学新金属材料国家重点实验室，北京科技大学新金属材料国家重点实验室 邮编 100083，邮编 100083，邮编 100083，邮编 100083 |
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| 摘 要： | 本文概要叙述了剑桥S250系列扫描电镜的维护维修实例,如常见的故障有电源部分故障、真空系统故障、继电器故障、控制单元故障、显示单元故障等等。
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| 关 键 词： | 扫描电镜 电源 真空系统 继电器 |
CAMBRIDGE SEM250 TROUBLE SHOOTING (1) |
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| He Jian Ping Jin Jian Ling Cui Xin Fa Yang Qi Min.CAMBRIDGE SEM250 TROUBLE SHOOTING (1)[J].Modern Instruments,1999(2). |
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| Authors: | He Jian Ping Jin Jian Ling Cui Xin Fa Yang Qi Min |
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| Abstract: | This article is about the maintenance and service experience on the Scanning Electron Microscope of Cambridge Instrument S250-MK2. In this paper We give out some trouble example that happened in Power Supply 、 Vacuum System and Relay. |
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| Keywords: | Scanning Electron Microscope Power supply Vacuum system Relay |
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