| ＬＳ—ＪＴＡＧ边界扫描测试系统的设计与实现 |
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| 引用本文： | 陈小铁,沈绪榜,赵冰茹,王忠,陈朝阳.ＬＳ—ＪＴＡＧ边界扫描测试系统的设计与实现[J].微电子学与计算机,2001,18(2):38-41. |
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| 作者姓名： | 陈小铁 沈绪榜 赵冰茹 王忠 陈朝阳 |
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| 作者单位： | 1. 西安微电子技术研究所,
2. 华中科技大学图象所, |
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| 摘 要： | 文章介绍了基于ＩＥＥＥ１１４９．１，协议在ＬＳ－ＪＴＡＧ边界扫描测试系统的设计和实现，系统以ＬＳ－ＪＴＡＧ主控器的核心，可以实现对支的支持协议的ＶＬＳＩ，ＰＣＢ，ＭＣＭ和其它数字系统进行边界扫描测试。
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| 关 键 词： | 集成电路 KS－JTAG 边界扫描测试系统 PCB 单片机 PC机 |
| 修稿时间： | 2000年11月14 |
The Design and Implementation of LS -JTAG Boundary- scan Testing System |
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| CHEN Xiao tie,SHEN Xu bang.The Design and Implementation of LS -JTAG Boundary- scan Testing System[J].Microelectronics & Computer,2001,18(2):38-41. |
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| Authors: | CHEN Xiao tie SHEN Xu bang |
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