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| 外延生长聚酞菁硅氧烷晶体的分子像 | |
| 作者姓名： | 吴君华 潘子昂 冯涛 邹本三 杜学礼 周啸 |
| 作者单位： | 清华大学，中日友好医院，清华大学，燕山石化研究院，国家教委，清华大学 |
| 摘 要： | 本文利用高分辨电子显微术(HREM)研究了酞菁硅氧烷单体Si(PC)(OH)_2及其聚合物[Si(PC)O]_n分别升华到氯化钠或溴化钾两种衬底上形成的聚合物薄膜晶体的分子像。红外吸收光谱证明,不能是用单体升华,还是用聚合物升华,得到的都是[si(PC)O]_n聚合物的分子像,且都能观察到两种分子链堆积方式,α型和β型,并以β型为主。表明由四种样品得到的分子像具有共同的特征。图中给出的是用[Si(PC)O]_n聚合物作为蒸发源,在NaCl单晶体(100)晶面上外延生长的晶体薄膜的分子像。图中A处附近分子链以β方式堆积,即以正方形方式堆积。可以看出有较多的晶体缺陷存在。箭头所指之处,在图上是一个点缺 |
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