| 内嵌快闪存储器的测试优化与分析 |
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| 引用本文： | 张归雁,吕宗伟. 内嵌快闪存储器的测试优化与分析[J]. 数字社区&智能家居, 2005, 0(5) |
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| 作者姓名： | 张归雁 吕宗伟 |
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| 作者单位： | 上海交通大学微电子学院，Flash Memory产品工程部 上海200336，Flash Memory产品工程部，SanDiskCorp200336，SanDisk Corp200336 |
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| 摘 要： | 由于对快闪存储器的广泛应用,对优化测试和可靠性日益迫切的要求成为一大重要挑战。因此,本文通过分析阐述如何合理有效应用夺路并行测试策略,可以更有效的在快闪存储器测试时间和产量方面达到很好的平衡。
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| 关 键 词： | 测试优化 内嵌快闪存储器 多路并行 |
Test Optimization & Analysis of Embedded NVM |
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| Abstract: | This paper introduces the test optimization and analysis by demanding to improve cost and reliability of NVM. By using emerging test strategies for efficient multi-site techniques, we can achieve greater trade-off in test time and throughput necessary for testing new flash devices. |
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| Keywords: | Test Optimization NVM Multi-Site Parallel |
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