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高量子效率前照式GaN基p-i-n结构紫外探测器
引用本文:游达,汤英文,赵德刚,许金通,徐运华,龚海梅.高量子效率前照式GaN基p-i-n结构紫外探测器[J].半导体学报,2006,27(5):896-899.
作者姓名:游达  汤英文  赵德刚  许金通  徐运华  龚海梅
作者单位:中国科学院上海技术物理所 传感技术国家重点实验室,上海 200083;中国科学院上海技术物理所 传感技术国家重点实验室,上海 200083;中国科学院半导体研究所,北京 100083;中国科学院上海技术物理所 传感技术国家重点实验室,上海 200083;中国科学院上海技术物理所 传感技术国家重点实验室,上海 200083;中国科学院上海技术物理所 传感技术国家重点实验室,上海 200083
摘    要:研究了Al0.1Ga0.9N/GaN异质结p-i-n结构可见盲紫外探测器的制备与性能.p区采用Al组分含量为0.1的AlGaN外延材料形成窗口层,使340~365nm波段的紫外光可以直接透过p区到达i区并被吸收,有效提高了这个波段的响应率与量子效率.并且研究了不同p区AlGaN外延层厚度对探测器性能的影响,制备了两种不同p区厚度(0.1μm和0.15μm)的器件,测试结果表明,p区的厚度对200~340nm波段光吸收的量子效率影响较大,而i区的晶体质量的提高可以有效提高340~365nm波段光吸收的量子效率.并且当p区AlGaN厚度为0.15μm时,器件的峰值响应率达到0.214A/W,在考虑表面反射时外量子效率高达85.6%,接近理论极限,并且在零偏压时暗电流密度为3.16nA/cm2,表明器件具有非常高的信噪比.

关 键 词:p-i-n  AlGaN  量子效率  响应光谱  高量子效率  结构  紫外探测器  High  Quantum  Efficiency  Based  UV  Photodetector  信噪比  暗电流密度  偏压  理论极限  外量子效率  表面反射  峰值  晶体质量  效率影响  光吸收  测试结果  器件  层厚度  探测器性能
文章编号:0253-4177(2006)05-0896-04
收稿时间:08 22 2005 12:00AM
修稿时间:12 29 2005 12:00AM

Characteristics of a Front-Illuminated Visible-Blind UV PhotodetectorBased on GaN p-i-n Photodiodes with High Quantum Efficiency
You D,Tang Yingwen,Zhao Degang,Xu Jintong,Xu Yunhua and Gong Haimei.Characteristics of a Front-Illuminated Visible-Blind UV PhotodetectorBased on GaN p-i-n Photodiodes with High Quantum Efficiency[J].Chinese Journal of Semiconductors,2006,27(5):896-899.
Authors:You D  Tang Yingwen  Zhao Degang  Xu Jintong  Xu Yunhua and Gong Haimei
Affiliation:Shanghai Institute of Technical Physics,Chinese Academy of Sciences,Shanghai 200083,China;Shanghai Institute of Technical Physics,Chinese Academy of Sciences,Shanghai 200083,China;Institute of Semiconductors,Chinese Academy of Sciences,Beijing 100083,China;Shanghai Institute of Technical Physics,Chinese Academy of Sciences,Shanghai 200083,China;Shanghai Institute of Technical Physics,Chinese Academy of Sciences,Shanghai 200083,China;Shanghai Institute of Technical Physics,Chinese Academy of Sciences,Shanghai 200083,China
Abstract:
Keywords:p-i-n  AlGaN  quantum efficiency  response spectrum
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