| 一种系统芯片的功能测试方法 |
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| 引用本文： | 宗竹林,何春,刘伟,宗云. 一种系统芯片的功能测试方法[J]. 中国集成电路, 2008, 17(5): 68-71 |
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| 作者姓名： | 宗竹林 何春 刘伟 宗云 |
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| 作者单位： | 电子科技大学电子科学技术研究院,成都,610054 |
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| 摘 要： | 本文通过对一款系统芯片（System on Chip,SoC）——“成电之芯”的功能测试平台的搭建,介绍了一种实现系统芯片功能测试的方法。
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| 关 键 词： | 系统芯片 雷达信号处理电路 测试平台 |
A method of functions test of SoC |
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| ZONG Zhu-lin,HE Chun,Liu Wei,ZONG Yun. A method of functions test of SoC[J]. China Integrated Circuit, 2008, 17(5): 68-71 |
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| Authors: | ZONG Zhu-lin HE Chun Liu Wei ZONG Yun |
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| Affiliation: | Research Institute of The University of Electronic Science and Technology of China Chengdu 610054 |
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| Abstract: | Via the test platform construction of a System on Chip the chip of UESTC, the paper introduces a method of funetions test of SoC. |
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| Keywords: | System on Chip radar signal processing circuit testing platform |
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