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粒径和应力对ZnS吸收边的影响
引用本文:邵志栋,周晓明,刘雄英.粒径和应力对ZnS吸收边的影响[J].固体电子学研究与进展,2014(3).
作者姓名:邵志栋  周晓明  刘雄英
作者单位:华南理工大学电子与信息学院;华南理工大学理学院;
基金项目:国家自然科学基金面上项目(61372008);中央高校基本科研业务费资助项目(2014ZZ0031);华南理工大学亚热带建筑科学国家重点实验室资助项目(2013KA02)
摘    要:提出透射光谱的新方法研究粒径和应力对半导体禁带宽度的影响。用传统化学方法制备得到ZnS样品,通过控制不同反应溶液的浓度来得到不同粒径的样品,烘干后对大、小颗粒样品进行X射线衍射分析;将ZnS粉末在环氧树脂胶体中收缩产生应力,得到所有需要的样品后测试其相应的透射光谱。对实验结果进行理论分析表明:三种不同粒径样品经过数据处理后发现粒径越大,ZnS禁带宽度越小,吸收边发生红移现象;应力作用比无应力作用下ZnS禁带宽度大,吸收边发生蓝移现象。

关 键 词:粒径  应力  透射光谱  禁带宽度

Research on Effect of Particle Size and Stress of ZnS on Its Absorption Edge
Abstract:
Keywords:
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